全自動二次元影像測量儀的結構組成及光學原理特點
發布時間：2019-12-18 17:42:49 點擊率：
自動二次元影像測量儀一般由機械、光學、圖像采集、計算機處理和測量軟件等六部分組成,。
影像測量儀的光學原理與普通投影儀很類似，區別在于影像前者被測件的輪廓影像被CCD 傳感器接收并由計算機進行圖像采集和處理，后者則直接把影像投射到投影觀測屏， 輪廓對準有操作者的人眼完成，因而導致兩者測量精度和自動化程度相差很大，另外還有高度測量的功能。
影像測量儀一般具有較大的測量范圍，通常配備有( 0. 7 @ ~ 4. 5 @ )的變焦物鏡，照明光源除了常見的底光和頂光外，還有環形照明光，適合于底光和頂光都不能有效照明時應用。
全自動二次元影像測量儀的誤差來源：
全自動二次元影像測量儀的測量可以是單軸、二維平面的測量，也可以是三維空間坐標的測量，測量時先對焦，取點，計算處理。
讀數來自于標尺即光柵系統，對焦對準依靠光學系統，還有一個直接影響測量效果和精度的照明光源， 因為，基于影像方法測量的儀器，如果被測件不能被有效正確的照明，則測量的結果顯然要偏離其真實尺寸。
除前述因素外，環境條件也是制約測量精度不可忽視的因素。
基于上述分析，可以歸納出以下幾個方面的誤差來源：
1)光柵計數尺的誤差；
2)工作臺移動時存在的直線度、角擺帶來的誤差；
3)工作臺兩測量軸垂直度帶來的誤差；
4)顯微鏡光軸與工作臺面不垂直帶來的誤差；
5)測量室溫度偏離校準要求的參考溫度帶來的誤差；
6)光源照明條件的變化帶來的對焦和對準誤差。
在這幾種因素中，前四項誤差，是硬件誤差，在儀器制造過程中已經形成并固定下來，一般無法改變；溫度影響帶來的誤差，必須通過控制測量室的溫度和等溫過程來減小其影響。
一項則常被忽視，而在實際測量中，當光源照明條件改變時，直接影響被測工件的照明效果和影像質量，主要是因為影像測量儀的圖像是通過CCD 接收，盡管CCD具有自動調節增益的功能，但當亮度過大時即失去調節功能，導致被測工件影像在縮小，當亮度過低時，工件影像反而變大。這種影響，對于測量具有重復圖形結構之間的間距時，只要整個測量過程中照明條件保持不變，其影響可以忽略，因為每個重復圖形結構都同時在變大或變小，間距的測量計算直接消除了影像變形的影響，如測量玻璃尺、網格板刻線間距;除了這種特殊情形外，如測量圓的直徑、工件的長度和寬度，都將帶來明顯的誤差。
在以影像測量工件樣品結構的幾何尺寸時，光照明條件的改變將會直接影像被測尺寸，如線寬、圓直徑及其他幾何形位公差，因此要確保取到的邊界點是產品需要檢測的邊界，在高精度測量中，這是導致測量不確定度增大的關鍵因素，應引起足夠重視。
影像測量儀的光學原理與普通投影儀很類似，區別在于影像前者被測件的輪廓影像被CCD 傳感器接收并由計算機進行圖像采集和處理，后者則直接把影像投射到投影觀測屏， 輪廓對準有操作者的人眼完成，因而導致兩者測量精度和自動化程度相差很大，另外還有高度測量的功能。
影像測量儀一般具有較大的測量范圍，通常配備有( 0. 7 @ ~ 4. 5 @ )的變焦物鏡，照明光源除了常見的底光和頂光外，還有環形照明光，適合于底光和頂光都不能有效照明時應用。
全自動二次元影像測量儀的誤差來源：
全自動二次元影像測量儀的測量可以是單軸、二維平面的測量，也可以是三維空間坐標的測量，測量時先對焦，取點，計算處理。
讀數來自于標尺即光柵系統，對焦對準依靠光學系統，還有一個直接影響測量效果和精度的照明光源， 因為，基于影像方法測量的儀器，如果被測件不能被有效正確的照明，則測量的結果顯然要偏離其真實尺寸。
除前述因素外，環境條件也是制約測量精度不可忽視的因素。
基于上述分析，可以歸納出以下幾個方面的誤差來源：
1)光柵計數尺的誤差；
2)工作臺移動時存在的直線度、角擺帶來的誤差；
3)工作臺兩測量軸垂直度帶來的誤差；
4)顯微鏡光軸與工作臺面不垂直帶來的誤差；
5)測量室溫度偏離校準要求的參考溫度帶來的誤差；
6)光源照明條件的變化帶來的對焦和對準誤差。
在這幾種因素中，前四項誤差，是硬件誤差，在儀器制造過程中已經形成并固定下來，一般無法改變；溫度影響帶來的誤差，必須通過控制測量室的溫度和等溫過程來減小其影響。
一項則常被忽視，而在實際測量中，當光源照明條件改變時，直接影響被測工件的照明效果和影像質量，主要是因為影像測量儀的圖像是通過CCD 接收，盡管CCD具有自動調節增益的功能，但當亮度過大時即失去調節功能，導致被測工件影像在縮小，當亮度過低時，工件影像反而變大。這種影響，對于測量具有重復圖形結構之間的間距時，只要整個測量過程中照明條件保持不變，其影響可以忽略，因為每個重復圖形結構都同時在變大或變小，間距的測量計算直接消除了影像變形的影響，如測量玻璃尺、網格板刻線間距;除了這種特殊情形外，如測量圓的直徑、工件的長度和寬度，都將帶來明顯的誤差。
在以影像測量工件樣品結構的幾何尺寸時，光照明條件的改變將會直接影像被測尺寸，如線寬、圓直徑及其他幾何形位公差，因此要確保取到的邊界點是產品需要檢測的邊界，在高精度測量中，這是導致測量不確定度增大的關鍵因素，應引起足夠重視。
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